品牌	UNICO/尤尼柯	應用領域	綜合

    GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀?——手機屏透過率檢測系統是能快速準確地測量手機屏幕目的透光率以及各類平面光學元件的透射率，可用于實時在線檢測，實現產品全檢的儀器。

    光學薄膜測量儀能快速準確地測量各類平面光學元件的透射率，可用于實時在線檢測，實現產品全檢。適用于手機屏、手機膜、手機殼、眼鏡、太陽鏡、防曬保護膜的透光率測量，塑料制品的透光率測量，透明或半透明材料透光率測量/棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。

    GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀規格參數：

項目	指標	備注
波長范圍	190-800nm	取決于光柵
光譜分辨率	FWHM0.84@577μm狹縫	與波長和狹縫有關
雜散光	0.06%@532nm,0.045%@785	與波長有關
光源	20W鹵素燈、氘燈
積分時間	8ms-15min	與CDD有關
電源	220V@50Hz
USB數據線	1.5m帶有USBmini-B接頭的數據線
光譜儀自動配置	自動配置包括讀標定參數
數據輸出	灰度值隨波長或CCD像素變化（可選擇）
尺寸	450mm300mm207mm
重量	6.5KG
工作溫度	0℃~45℃

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光學薄膜測量儀

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